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產(chǎn)品分類
GALAXY 銀河系列
GALAXY 銀河系列
適用標(biāo)準(zhǔn)
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| 萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)(全自動(dòng)引伸計(jì)) |
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自適應(yīng)閉環(huán)控制與高精度傳感技術(shù)，自動(dòng)標(biāo)距定位和試樣夾持，可準(zhǔn)確跟蹤測(cè)量試驗(yàn)形變，一次裝樣即可測(cè)得彈性模量、斷裂應(yīng)變、屈服應(yīng)變等關(guān)鍵指標(biāo)，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確、穩(wěn)定、試驗(yàn)效率高。 |
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1.信息化、智能化
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| 數(shù)據(jù)集于云端或服務(wù)器集中存儲(chǔ)，助力試驗(yàn)信息高效交互，規(guī)避數(shù)據(jù)丟失損壞風(fēng)險(xiǎn)，安全性高； | ||
| 依托網(wǎng)絡(luò)信息化，試驗(yàn)數(shù)據(jù)可在不同部門、團(tuán)隊(duì)間便捷共享協(xié)作； | ||
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2.智能傳感、高精度測(cè)量
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| 多通道高速同步采樣，自動(dòng)識(shí)別傳感器的類別與功能； |
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| 數(shù)據(jù)采集頻率快、精度高、穩(wěn)定性好； | ||
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3.人機(jī)交互便捷
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| 多終端覆蓋，支持電腦、手機(jī)及手持操控器協(xié)同操作，實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)數(shù)據(jù)同步顯示與遠(yuǎn)程控制，為用戶帶來(lái)高效便捷的操作體驗(yàn)； | ||
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4.簡(jiǎn)潔高效的測(cè)控軟件
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| TestExplorerll軟件，采用開(kāi)源設(shè)計(jì)架構(gòu)，內(nèi)置近百種ISO、GB/T、ASTM和EN標(biāo)準(zhǔn)； | ||
| 支持用戶自定義試驗(yàn)方案、編輯測(cè)試流程，并靈活創(chuàng)建試驗(yàn)方法，滿足科研、質(zhì)檢等多場(chǎng)景需求，操作高效，擴(kuò)展性強(qiáng)； | ||
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5.大行程高精度測(cè)量系統(tǒng)
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| 800mm全行程范圍內(nèi)保持高精度，測(cè)量分辨力達(dá)全程不分檔。采用多通道光學(xué)變形測(cè)量裝置:0.1μm，實(shí)現(xiàn)形變自動(dòng)跟蹤測(cè)量； | ||
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6.伺服跟蹤技術(shù)
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| 實(shí)時(shí)跟蹤、智能感知試樣微小變形，毫秒級(jí)響應(yīng)、平衡技術(shù)確保輸出結(jié)果準(zhǔn)確可靠、重復(fù)性好； | ||
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7.標(biāo)距自動(dòng)定位
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| 可記憶20mm、25mm、50mm、75mm等多種標(biāo)距位置，實(shí)現(xiàn)任意位置夾頭自動(dòng)復(fù)位。 |
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標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
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GB/T 16491
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GB/T 9341
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GB/T 13022
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ISO 527
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GB/T 1040
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ISO 178
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GB/T 1041
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ASTM D 638
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銀河系萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)(全自動(dòng)引伸計(jì))
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技術(shù)參數(shù) Technical Parameter
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測(cè)量行程
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≤800mm
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變形示值誤差
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1um或示值的±0.5%以內(nèi)
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變形分辨力
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0.1μm
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加持試樣范圍
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0～20mm
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jj-test@
400-800-6619
